2026-10-29T20:44:04Zhttps://munzur-rdlopen.rawdatalibrary.net/oai/request

oai:munzur-rdlopen.rawdatalibrary.net:munzur/67352026-10-28T15:33:21Zopenairedrivercom_munzur_1col_munzur_2

Farklı oranlardaki Eu2O3—Li2O—TeO2 karışımlarının gama radyasyonu yalıtım özelliklerinin Geant4 simülasyon kodu ve WinXCOM veri yazılımı kullanılarak karakterizasyonuAskin, AliDal, MuratFizik, UygulamalıFizik, NükleerBu çalışmada, xEu2O3—(25-x)Li2O—75TeO2 (lityum-öropiyum-tellür) (x = %1, %2, %3, %4, %5 mol) camlarının gama radyasyonu kütle zayıflatma katsayıları (µm), gama radyosyonu transmisyonu (T), yarı değer kalınlığı (HVL) ve ortalama serbest yol (MFP) yalıtım parametreleri yüksek saflıkta germanyum (HPGe) dedektörünün Geant4 modeli ve WinXCOM veri tabanı kullanılarak 356 keV, 662 keV, 1173 keV, 1330 keV, 2510 keV ve 4000 keV foton enerjilerinde araştırılmıştır. Elde edilen sonuçlar cam örneklerinin kimyasal bileşenleri ve foton etkileşim mekanizmaları açısından değerlendirildiğinde, Öropiyum’un yüksek kütle numarası ve kimyasal formüldeki oranına bağlı olarak, %5 mol Eu2O3 içeren cam numunesinin gama radyasyonu yalıtım özelliklerinin %1 mol Eu2O3 içeren camdan yüksek olduğu görülmüştür.2020Articlehttps://rdlopen.rawdatalibrary.net/r/munzur/6735https://doi.org/10.25092/baunfbed.6806191301-7985trBalıkesir Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisiinfo:eu-repo/semantics/openAccessinfo:eu-repo/semantics/articlehttps://munzur-rdlopen.rawdatalibrary.net/tr/items/munzur/6735